Insize XRF-PT230 X-Ray Floresan Spektrometre / Film Kalınlık Ölçer

Kod: XRF-PT230

90 çeşit kaplama elementini tespit edebilir ve jeoloji, alaşımlar, değerli metaller,
Mikro odaklı X-ışını jeneratörü ve gelişmiş ışık yolu dönüştürme odaklama sistemi ile donatılmış olan minimum ölçülebilir alan 0,03 mm²’ye kadardır.
0’dan 30 mm’ye kadar çeşitli şekilli ve düzensiz yivli parçalar üzerinde tahribatsız testler yapabilen, tahribatsız manuel yakınlaştırma algılama teknolojisine sahiptir.
Si-Pin yarı iletken dedektör, yüksek çözünürlük, hızlı test hızı, kararlı veriler, mikro ışık odaklama teknolojisi ile donatılmış olup, spot difüzyonu %10’dan daha azdır.
Çekirdek EFP algoritması 23 kaplama ve 24 elementin eş zamanlı analizine olanak sağlar. Farklı katmanlardaki aynı öğe dahil olmak üzere birden çok katmanı ve birden çok öğeyi hızlı, doğru ve istikrarlı bir şekilde analiz edebilir.
Kullanıcı dostu kapalı yazılım, arızaları otomatik olarak tanımlar, kalibrasyon ve operasyon adımlarını sağlar, yanlış işlemleri önler.

📘 Kullanım Kılavuzu 📄 PDF İndir

Uygulama alanları: galvanik kaplama kalınlık analizi, konektörler, bağlantı elemanı endüstrisi, otomotiv parçaları, donanım endüstrisi (Cr/Ni/CuZn(ABS) gibi ev ekipmanları ve aksesuarları), yeni enerji endüstrisi (fotovoltaik kaynak teli) gibi elektronik bileşenlerin denetimi , vb.), aksesuarların kalınlık analizi, rubidyum demir bor mıknatıslarında NI/Cu/Ni/FendB, elektrokaplama çözeltisinde metal katyon tespiti vb.